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制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
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商品描述
制造半导体器件(包括集成电路)时检验半导体晶圆、器件(包括集成电路)或检测光掩模或光栅用的仪器和器具
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1品牌类型;2出口享惠情况;3用途;4功能;5品牌(中文或外文名称);6型号;7GTIN;8CAS;9其他;
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